產(chǎn)品介紹

    Huace650T高低溫冷熱臺(tái)由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā)，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在測(cè)試功能上也增加了電阻測(cè)試、TSDC等測(cè)量功能！

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

    電網(wǎng)諧波是電網(wǎng)中存在的除基波電壓、電流以外的高次諧波分量。諧波產(chǎn)生的根本原因是由于非線性負(fù)載所致。當(dāng)電流流經(jīng)負(fù)載時(shí)，與所加的電壓不呈線性關(guān)系，就形成非正弦電流，從而產(chǎn)生諧波。嚴(yán)重干擾通信、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、高jing度加工機(jī)械，檢測(cè)儀表等用電設(shè)備的使用。目前加熱裝置大都是交流加熱絲加熱。交流加熱即50Hz正弦波對(duì)加熱絲進(jìn)行加熱的方式。為了解決這種工頻干擾以及電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量的影響，華測(cè)儀器采用了直流加熱方式進(jìn)行加熱。同時(shí)加入濾波等方式以更好的減少對(duì)測(cè)量過程中的影響。大大提高測(cè)量的精度。

消除高溫環(huán)境下測(cè)量導(dǎo)線阻抗影響及內(nèi)部屏蔽

    01、傳輸線受其材料及結(jié)構(gòu)的影響，當(dāng)傳輸高頻信號(hào)時(shí)，導(dǎo)線內(nèi)各點(diǎn)電流與電壓的特性比。阻抗的不一致(不匹配)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量的數(shù)據(jù)存在一定的誤差。所以在測(cè)量過程中一定要采用阻抗更匹配的測(cè)量導(dǎo)線；

    02、測(cè)量的導(dǎo)線也存在著一定的阻抗及高頻響應(yīng)，故縮短測(cè)量導(dǎo)線將提高測(cè)量精度；

    03、高溫環(huán)境下的測(cè)量導(dǎo)線無(wú)法做到更好的屏蔽，大都只做了絕緣處理，高溫導(dǎo)線受溫度的影響阻值變大，高溫導(dǎo)線因要求通過絕緣件（如陶瓷、耐火材料等）將會(huì)把一部分電容引入測(cè)量。 增大測(cè)量誤差；

    04、測(cè)量的方式采用三電極測(cè)量，將會(huì)起到更好的屏蔽作用

優(yōu)化樣品溫度的測(cè)量方式及測(cè)量電極的

    01、通過平行板電極的測(cè)量原理，可以更好的說明測(cè)量的電極盡可能小，減少空間及雜散電容的影響的辦法是在樣品上濺射一層導(dǎo)電材質(zhì)。

    02、因不同的材料熱晗不同，以熱電偶靠近樣品測(cè)試的溫度作為樣品的溫度同樣存在著一定的誤差。如果采用參比樣品的方式進(jìn)行測(cè)量，那么樣品的溫度就是材料真實(shí)溫度。

更強(qiáng)大的操作軟件

    測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備穩(wěn)定性與操作保護(hù)性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。 兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。

    多語(yǔ)介面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

    即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；

    圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；

    使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

    故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

    試驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)表格式，一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告，可導(dǎo)出EXCEL、PDF格式報(bào)表

    軟件兼容：Huace（6300、6500）、Keysight（ E4990、E4991、E4980A）、waynekerr（6500B、6530、4235）同惠（2983、 2838、2851）等阻抗分析儀表。keithley 6487、6517b、HIOKI7110、7120，KeysightB2985、2987高阻計(jì)。keithley 2400 2450、2600系列源表（可作為四探針測(cè)試）

產(chǎn)品參數(shù)

溫控參數(shù)

    01.溫度范圍：-185℃ ~ 600℃（負(fù)溫需配液氮制冷系統(tǒng)）

    02.傳感器/溫控方式：100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源）

    03.加熱/制冷速度：+80℃/min （100℃時(shí)），-50℃/min （100℃時(shí)）

    04.加熱/制冷速度：±0.25℃/min

    05.溫度分辨率：0.01℃

    06.溫度穩(wěn)定性：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）

    07.軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線

電學(xué)參數(shù)

    01.探針：默認(rèn)為錸鎢材質(zhì)的彎針探針 *可選其他種類電極

    02.探針座：杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性更好

    03.點(diǎn)針：手動(dòng)點(diǎn)針，每個(gè)探針座都可點(diǎn)到樣品區(qū)上任意位置

    04.探針接口：默認(rèn)為BNC接頭，可選三同軸接口* 可增設(shè)腔內(nèi)接線柱（樣品接電引線）

    05.樣品臺(tái)面電位：默認(rèn)為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口

    06.非磁性改造：臺(tái)體可改用非磁性材質(zhì)制造，用于變溫霍爾效應(yīng)探針測(cè)試

光學(xué)參數(shù)

    01.適用光路：反射光路

    02.窗片：可拆卸與更替的窗片

    03.物鏡工作距離：8.5 mm

    04.透光孔：臺(tái)面默認(rèn)無(wú)通光孔，可增設(shè)通光孔以支持透射光路

    05.上蓋窗片觀察：窗片范圍φ38mm，視角±60.7°

    06.負(fù)溫下窗片除霜：真空

結(jié)構(gòu)參數(shù)

    01.加熱區(qū)/樣品區(qū)：30 mm

    02.樣品腔高：6.3 mm ，樣品厚度由探針決定

    03.放樣：打開上蓋后置入樣品再點(diǎn)針，關(guān)上蓋后無(wú)法移動(dòng)探針

    04.氣氛控制：氣密腔，可充入保護(hù)氣體 ，另有真空腔型號(hào)

    05.外殼冷卻：可通循環(huán)水，以維持外殼溫度在常溫附近

    06.安裝方式：水平安裝 或 垂直安裝

    07.臺(tái)體尺寸/重量：210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

01. 更精準(zhǔn)的測(cè)量方式

    從根本上解決了，測(cè)量溫度、測(cè)量導(dǎo)線、電網(wǎng)諧波干擾，以及測(cè)量延長(zhǎng)導(dǎo)線阻抗對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。

02. 更完善的測(cè)量功能

    比現(xiàn)有的高低溫阻抗分析儀，增加了TSDC、熱釋電、電阻、擊穿等測(cè)量功能。方便擴(kuò)展高低溫測(cè)試環(huán)境。在功能材料的電學(xué)測(cè)試，可輕松實(shí)現(xiàn)一套系統(tǒng)      完成所有電學(xué)測(cè)試。

03. 更嚴(yán)格的質(zhì)量管控嚴(yán)格做好每一款產(chǎn)品質(zhì)量把控

    從原器件采購(gòu)、到生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制，到產(chǎn)成品計(jì)量檢測(cè)，嚴(yán)格質(zhì)量把控，確保生產(chǎn)合格的科研儀器。

04. 更完善的售后服務(wù)體系整機(jī)保修三年

    7X24小時(shí)在線服務(wù)。預(yù)裝遠(yuǎn)程服務(wù)軟件，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程升級(jí)、維護(hù)等。